ChemNet
 
Предыдущий реферат Следующий реферат Содержание номера статья
9.МБ.246. Радиоактивные диффузионные газовые зонды в дефектоскопии пленочных материалов Бекман И.Н.. Радиохимия. 2000. 42, 3, с. 247-253. Рус.
Рассмотрены перспективы использования динамич. варианта диффузионно-зондовой дефектоскопии для диагностики пленочных материалов: упаковочных ПЛ, МБ, фольг и т. п. Основное внимание уделено применению радиоактивных газовых зондов для обнаружения дефектов и неоднородностей структуры в движущихся пленочных изделиях. Проведено сравнение эффективности различных режимов диагностики: проницаемости, сорбции и ДС. Показано, что диффузионные дефектоскопы позволяют оперативно контролировать состав пленочных материалов (в том числе наполненных и слоистых композитов), обнаружить и идентифицировать в материале различного типа дефекты

Ключевые слова: акк пленки% н пленочные материалы% акк композиционные материалы% н наполненные и слоистые% акк пленки полимерные% н упаковочные% акк мембраны% н пленочные% акк фольга% акк дефектоскопия% н диффузионно-зондовая динамич.% акк зонды% н радиоактивные газовые, использование% акк дефекты% н структуры, в движущихся пленочных изделиях, обнаружение


Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам информацию, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервисов Google Analytics и Яндекс.Метрика). Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в настройках своего браузера.

Сервер создается при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Не разрешается  копирование материалов и размещение на других Web-сайтах
Вебдизайн: Copyright (C) И. Миняйлова и В. Миняйлов
Copyright (C) Химический факультет МГУ
Написать письмо редактору