 |
|
|
21.МБ.229. Исследование влияния УФ и облучения на структуру латентных треков в олиэтилентерефталате методом атомно силовой микроскопии
Гайнутдинов Р. В., Виленский А. И.. 18 Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, 5 июня - 8 июля, 2000: Тезисы докладов. Черноголовка:Богород. печатник. 2000, с. 32. Рус.
Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) на поверхности полиэтилентерефталата (ПЭТФ), облученного ускоренными ионами Xe и выдержанного в течение 15 мин в водном растворе KOH (0,25 моль/л) при 75ºC, обнаружены характерные бугорки. Плотность бугорков равнялась плотности облучения тяжелыми ионами полимера. Их средние размеры соответствовали размерам сшитой области треков. Эти бугорки явились индикаторами сшитой области треков. С помощью АСМ в различных режимах (контактном, боковых сил и резонансном модуляционном) изучено воздействие УФ и γ облучения на структуру латентных треков в полиэтилентерефталате (ПЭТФ). Установлено, что УФ и γ облучение изменяет топографию поверхности ПЭТФ. Характерные бугорки уменьшаются в размере или исчезают. Указанные изменения топографии поверхности связаны с частичным или полным разрушением сшитой области треков. Таким образом, УФ и γ облучение изменяет структуру треков в ПЭТФ, что и является основной причиной ускорения их травления.
Ключевые слова: γАКК полиэтилентерефталат, АКК мембраны полимерные, АКК гамма-лучи, АКК лучи УФ, АНН структура латентных треков
|
|
|
|
Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам информацию, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервисов Google Analytics и Яндекс.Метрика). Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в настройках своего браузера.
Сервер создается при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Не разрешается копирование
материалов и размещение на других Web-сайтах
Вебдизайн: Copyright (C) И. Миняйлова и В. Миняйлов
Copyright (C) Химический факультет МГУ
Написать письмо редактору
|
