ChemNet
 
Предыдущий реферат Следующий реферат Содержание номера статья
16.МБ.179. Влияние толщины мембраны Nafion на характеристики топливного элемента, работающего непосредственно на метаноле Liu Jian-guo, Yi Bao-lian, Wang Su-li, Wei Zhao-bin, Xin Qin, Chen Li-kang. Dianyuan jishu=Chin. J. Power Sources. 2002. 26, 1, с. 17-19, 35. Кит.; рез. англ.
Определяли влияние толщины мембраны на характеристики ТЭ, работающего непосредственно на метаноле. В ТЭ использовали в качестве электролита мембраны Nafion 112, Nafion 115 и Nafion 117; остальные параметры ТЭ и условий испытаний были одни и те же. Показано, что при малых токах разряда толщина мембраны не лимитирует процесс разряда; при высоких токах разряда с увеличением толщины мембраны характеристики ТЭ снижаются. Установлено, что удельная мощность изученного ТЭ на мембране Nafion 112 при потреблении метанола 1 моль на литр при температуре 75ºC составляет 120 мВт/см2.

Ключевые слова: акк топливные элементы% н мембранные% н работающ. на метаноле% акк мембранные электролиты% н Nafion 112% н Nafion 115% н Nafion 117% н использование% анн толщина МБ –х-ки ТЭ взаимосвязь


Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам информацию, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервисов Google Analytics и Яндекс.Метрика). Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в настройках своего браузера.

Сервер создается при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Не разрешается  копирование материалов и размещение на других Web-сайтах
Вебдизайн: Copyright (C) И. Миняйлова и В. Миняйлов
Copyright (C) Химический факультет МГУ
Написать письмо редактору