ChemNet
 
Предыдущий реферат Следующий реферат Содержание номера статья
13.МБ.213. Необменная сорбция аспарагиновой и глутаминовой кислоты катионообменными мембранами МК-40 и МК-100 Новикова Л.А., Бобрешова О.В., Кулинцов П.И., Аристов И.В. Всероссийская научная конференция "Мембраны 2001", Москва, 25 окт., 2001: Программа. Тезисы докладов. М.: Б. и. 2001, с. 174. Рус.
Приведены результаты исследования процессов сорбции-десорбции в электромембранных система, включающих аспарагиновую и глутаминовую к-ты и катионообм. МБ МК-40 и МК-100 дистиллир. водой. Контроль сорбции-десорбции аминок-т осуществлялся по кондуктометрич. измерениям р-ров и МБ. Расчеты и анализ результатов проводились на основании сопоставления трех возможных процессов, определяющих ионный состав МБ: протонирование биполярных ионов аминок-ты ионами водорода в фазе МБ с образованием катионов аминок-ты, определяющих ионную форму МБ; протонирование части биполярных ионов аминок-ты, приводящее к смешанной аминок-тно-водородной форме МБ; отсутствие р-ции между биполярными ионами аминок-ты и протонами, не изменяющее исходной водородной формы МБ. На основании сопоставления расчетных и эксперим. данных показано, что аспарагиновая и глутаминовая к-ты сорбируются МБ в виде биполярных ионов, сорбир. по механизму молек. сорбции (т. е. необменно). При этом катионитовые МБ остаются в водородной ионной форме. В результате только ионы водорода являются основными переносчиками электричества в системе катионитовая МБ р-р аспарагиновой (глутаминовой) к-ты. Россия, Воронежский гос. ун-т, Воронеж.

Ключевые слова: акк мембраны катионообменные% н МК-40 и МК-100% акк сорбция% н необменная% к аспарагиновая кислота% к глутаминовая кислота% акк электромембранные процессы% акк протонирование% н биполярных ионов аминок-т% акк кондуктометрия




Сервер создается при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Не разрешается  копирование материалов и размещение на других Web-сайтах
Вебдизайн: Copyright (C) И. Миняйлова и В. Миняйлов
Copyright (C) Химический факультет МГУ
Написать письмо редактору