 |
|
|
11.МБ.235. Мембранный соединитель для тестирования полупроводниковых устройств
Membrane-supported contactor for semiconductor test. Пат. 6027346 США, МПК 7 H 01 R 9/09. Xandex, Inc., Sinsheimer Roger, Temer Vladan, Teglia Dave. № 09/107040; Заявл. 29.06.1998; Опубл. 22.02.2000; НПК 439/66. Англ.
Патентуется способ контроля параметров кристаллов ИС, имеющих выводы схемы в виде решеток паяльных шариков или контактов для пайки по технологии флип-чип. На ряды контактов накладывается МБ, содерж. ряды отверстий, соотв-щих размещению выводов ИС. В отверстиях МБ устанавливаются кобальт-никелевые контакты, связанные с контактными площадками полосками из электропроводного термопласта. Внутри МБ имеются параллельные проводники, соединяющие контактные площадки приспособления и измерит. аппаратуры. Ил. 9.
Ключевые слова: акк полупроводниковые приборы% н тестирование% акк интегральные схемы% н соединители мембранные
|
|
|
|
Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам информацию, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервисов Google Analytics и Яндекс.Метрика). Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в настройках своего браузера.
Сервер создается при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Не разрешается копирование
материалов и размещение на других Web-сайтах
Вебдизайн: Copyright (C) И. Миняйлова и В. Миняйлов
Copyright (C) Химический факультет МГУ
Написать письмо редактору
|
